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  双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

  四探针电阻率测试仪

  方块电阻范围:10-2~2×105Ω/□

  2.电阻率范围:10-3~2×106Ω-cm

  3.测试电流范围:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA

  4.电流精度:±0.3%读数

  5.电阻精度:≤0.5%

  6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率。